TO16低對比度細節(jié)檢測模體
TO16低對比度細節(jié)檢測模體
實體廠家，非標訂制，一件起訂，134-7367-2973 微信同號
以下圖片和參數(shù)，僅供參考！！！更多詳情，請咨詢：134-7367-2973 微信同號
特點:1、低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)和CR系統(tǒng);2、這些測試對象旨在快速定量評估圖像質量。結果可以繪制在閾值檢測指數(shù)曲線上。TO16低對比度細節(jié)檢測模體符合新WS標準
TO16低對比度細節(jié)檢測模體技術參數(shù):
直徑250mm，厚度10mm
圓板中有12組不同細節(jié)點，每組中有12個不同直徑的細節(jié)點，直徑從0.25m到11mm144個細節(jié)點的對比度范圍從0.0014到0.924(在75kV和1.5mm銅濾過的條下)144個細節(jié)(12x12對比細節(jié))
尺寸范圍11mm至0.25mm
對比度范圍0.0014至0.924(在75kV，1.5mm Cu過濾條件下)
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